MDPI 期刊推荐 | 聚焦计量科学与技术领域优质期刊——Metrology
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Metrology (ISSN 2673-8244) 是一本国际化、经同行评审的开放获取期刊。该刊涵盖测量科学或测量技术的理论、设计和应用。期刊旨在发表计量学领域高质量的、具有前沿知识的实验和创新成果的科学论文。
主题领域包括但不限于:复杂测量系统的SI单位溯源性、不确定性评价、微纳米系统、关于测量原理的思考、误差分离方法、受到SI重新定义启发的新方法、Cyberphysical系统、人工智能 (尤其是其对可追溯性的影响)、计量学的机器学习、数字孪生、可持续制造的计量、动态过程中的测量不确定度。
期刊主编
Prof. Dr. Han Haitjema
比利时鲁汶大学机械工程系
投稿优势
更高文章曝光度
Metrology 期刊目前已被CNKI、J-Gate、PATENTSCOPE等多个数据库收录。
更快发表速度
Time to First Decision | 18 Days |
Acceptance to Publication | 8 Days |
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